F-Terms

Die F-Terms sind ein spezielle Klassifikation des japanischen Patentamts. Die Suche in den F-Terms ermöglicht Ihnen eine sehr detaillierte Suche nach unterschiedlichen Aspekten der Erfindung. Weitere Informationen zu dieser Klassifikation finden Sie hier: Informationen zu den F-Terms bei japanischen Patentamt.
Patente werden in einem bestimmten technischen Bereich nach mehreren Gesichtspunkten klassifiziert (Multiaspekt-Klassifizierung). Nur japanische Patentdokumente sind nach F-Terms klassifiziert.

Die Klassen können nicht über eine Auswahlbaum gefunden werden. Sie müssen händisch eingetragen werden. Die Trennung zwischen zwei Klassen ist das Semikolon.

Um eine Klasse und alle Unterklassen zu finden, tragen Sie die Klasse mit dem Stern als Trunkierung ein. Bsp. 3C034*.

Um genau einen bestimmten F-Term zu finden müssen Sie einen Schrägstrich (wie bei der IPC) eingeben. Geben Sie die Klasse und danach den "Viewpoint" mit einem Schrägstrich getrennt ein.

3C034 AA08  -->   3C034/AA08

Seit kurzem ist es nun möglich nach den F-Terms auf der Homepage des japanischen Patentamtes zu suchen. Klicken Sie dazu auf das Icon.